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Semiconductor & Display
Wafer 검사
Wafer 표면 위 비정형적인 형태의 결함 검사
반도체 웨이퍼 표면에는 오염과 이물, 절단 자국, 다양한 균열과 긁힘 등이 생길 수 있습니다. 반도체 웨이퍼 공정은 전체 반도체 제작 공정의 첫 번째 단계이며, 웨이퍼는 회로의 정밀도에 영향을 줄 수 있는 기판이기에 중요한 부품입니다.
뉴로클의 소프트웨어를 통해 반도체 집적 회로가 되는 웨이퍼의 품질 향상을 기대할 수 있습니다.
![wafer_seg.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_61ff1e67df714854a206592cd0ea16cc~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/wafer_seg.png)
![wafer.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_d4f412ac46aa40d78283b738614ea864~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/wafer.png)
T사 웨이퍼 표면 검사
Wafer
패키징 공정
패키징 공정 내 검사
몰드 및 리드 검사
패키징 공정 중에 발생하는 몰드의 결함을 검출할 수 있습니다. 또한 리드 프레임의 유무와 손상 정도를 검사하고 미도금, 이상 형상 등의 결함을 검출하여 납품 및 실장 이전의 검사를 수행합니다.
뉴로클의 소프트웨어를 통해 반도체의 품질 향상을 이룰 수 있습니다.
![IC chip_cla.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_70847698185244f6afddb29ae25e2f42~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/IC%20chip_cla.png)
![IC chip.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_40ef74c0619c462bb3e49ae7cd1e3f8a~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/IC%20chip.png)
S사 패키징 공정 검사
OLED 검사
증착 후 검사
유기물과 메탈소자를 기판에 증착시키는 증착 공정 이후의 결함을 검사할 수 있습니다. 복잡한 구조 속에서 발생하는 균열, 박리, 스크래치와 같은 불량을 검출하여 화질 저하와 같은 품질 저하를 막을 수 있습니다.
뉴로클의 소프트웨어를 통해 보다 향상된 품질의 디스플레이를 생산할 수 있습니다.
![OLED_seg.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_a3c0d9893cb04dc19bcc70282a2165af~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/OLED_seg.png)
![OLED.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_e7410019cb274b5d9b9dcea609756ce7~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/OLED.png)
S사 패널 검사
OLED 검사
LCD 검사
Array 공정 내 검사
LCD 패널 제조 단계 중 핵심인 array 공정 상에서 발생하는 복잡한 패턴 내의 불량을 검출할 수 있습니다.
뉴로클의 소프트웨어를 활용한 결함 검사를 통하여 이후 공정에서 발생할 수 있는 로스를 줄이고 리페어 시스템과 연동하여 생산 수율을 높일 수 있습니다.
![LCD_seg.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_e2658031cf354a91be51266e561efdfe~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/LCD_seg.png)
![LCD.png](https://static.wixstatic.com/media/242158_242f865648ee4ae896d5ae5098d5f41e~mv2.png/v1/fill/w_400,h_278,al_c,q_85,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/LCD.png)
A사 패널 Array 검사
LCD 검사
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